Basic款激光光斑光束质量分析仪技术参数/图片/应用/价格
松盛光电研发生产的光束质量分析仪，产品类型丰富，功能全面。适用于340~1100nm光谱范围内的光束测量要求，可测量从nW到1W的不同强度激光。
Basic系列是松盛光电研发生产的基本款系列产品。该系统普适性强，长波红外范围内激光器检测表现优异。该系列所采用相机灵敏度高，集成的快门可以进行全自动的非均匀性校正。搭配自有开发的lasescopeNX软件可用于光束实时监测 、测量激光光斑尺寸、质心位置、椭圆度、相对功率测量、光束指向稳定性、功率稳定性、2D/3D能量分布、发散角测量等，同步支持多光斑测量，支持测量数据、测量报告导出，满足日常激光参数测量需求。
产品特点
标配支架底座，结构紧凑，使用方便
支持手动/自动实时曝光及增益调节
多种类型激光器均可测量
340nm~1150nm宽光谱响应，可拓展紫外检测
更小像元尺寸：低至1.67μm
接口类型可选：高速USB3.0/GigE 不同产品标配
软件功能强大，性价比俱佳
应用场景
光束质量分析仪的应用领域广泛，涵盖激光加工、光通信、生物医学、光学成像等多个方面。
激光加工：在激光切割、焊接等加工过程中，能够实时监测光束质量，优化加工参数，提高加工精度和效率。
光通信：在光纤通信系统中，用于评估光纤、光放大器等器件的光束质量，确保通信信号的传输效率和质量。
生物医学：在医学和生物技术领域，用于光镊、细胞分拣等应用中，对激光光束进行整形和调整，以实现精确操作。
光学成像：对光学成像系统的分辨率和对比度有重要影响，可用于镜头质检、光学系统调试等方面。
软件功能
Lasescope NX是松盛光电定制研发的一款用于Windows 系统的激光光束分析专门算法软件，算法精准、功能强大。在准确获取光斑的尺寸位置、光斑大小形貌的同时，可以在设备加工时调整激光加工的准确位置。
软件环境：Windows 10/11.64位，预装MS Office或者WPS
硬件配置：≥8G内存，CPU主频≥2.5G，内核≥4.建议i5及以上同等型号，最佳显示分辨率1920*1080
光斑形貌图示
光路指向性图示
精度检测图示
BPP因子检测图示
多光斑检测图示
技术参数表
| 产品型号 | 适配光谱范围 | 分辨率 | 像元尺寸 | 最小检测光斑 | 最大检测光斑 | 最大检测功率 | 外触发 |
| D0307UK-Basic | 190-340nm
340~1100nm① |
2448*2048 | 3.45μm | 34.5μm | 7.1mm | 1W | 支持 |
| N0204UB-Basic | 1100-1350nm
340~1100nm① |
2592*1944 | 2.2μm | 22μm | 4.3mm | 1W | 不支持 |
| N0307UK-Basic | 190-340nm
340~1100nm① |
2448*2048 | 3.45μm | 34.5μm | 7.1mm | 1W | 支持 |
| N0310UK-Basic | 300~340nm
1100-1350nm 340-1100nm① |
4096*3072 | 3.45μm | 32μm | 9.8mm | 1W | 支持 |
| NS0505GK-Basic | 1100-1750nm
340-1100nm① |
1280*1024 | 5μm | 50μm | 5.1mm | 1W | 支持 |
| N0511UK-Basic | 190~340nm
1100-1350nm 340-1100nm① |
2048*2048 | 5.5μm | 55μm | 11.3mm | 1W | 支持 |
| N0512UP-Basic | 340~1100nm① | 2560*2560 | 5μm | 50μm | 12.8mm | 1W | 支持 |
| N0615UP-Basic | 1100-1350nm
340-1100nm① |
3288*2470 | 6.4μm | 64μm | 15.8mm | 1W | 支持 |
| N0622TP-Basic | 1100-1350nm
340-1100nm① |
7000*7000 | 6.4μm | 64μm | 22.4mm | 1W | 支持 |
备注：①是基础款产品标准衰减配置的检测波段，其他波段的衰减方案需要另行购买。
相关配件列表
| 配件名称 | 配件型号 | 参数 | 标准配置 | 可选配置 | 适配光谱范围 |
| 磁吸衰减器 | TAMB-05 | OD0.5 | √ | X | 340-1100nm |
| 磁吸衰减器 | TAMB-10 | OD1.0 | √ | X | 340-1100nm |
| 磁吸衰减器 | TAMB-20 | OD2.0 | √ | X | 340-1100nm |
| 磁吸衰减器 | TAMB-30 | OD3.0 | √ | X | 340-1100nm |
| 磁吸衰减器 | TAMB-40 | OD4.0 | X | √ | 340-1100nm |
| 深紫外磁吸衰减器 | TAMB-05D | OD0.5 | X | √ | 190-500nm |
| 深紫外磁吸衰减器 | TAMB-10D | OD1.0 | X | √ | 190-500nm |
| 深紫外磁吸衰减器 | TAMB-20D | OD2.0 | X | √ | 190-500nm |
| 深紫外磁吸衰减器 | TAMB-30D | OD3.0 | X | √ | 190-500nm |
| 深紫外磁吸衰减器 | TAMB-40D | OD4.0 | X | √ | 190-500nm |
| C口衰减器 | TAC-05 | OD0.5 | X | √ | 340-1100nm |
| C口衰减器 | TAC-10 | OD1.0 | X | √ | 340-1100nm |
| C口衰减器 | TAC-20 | OD2.0 | X | √ | 340-1100nm |
| C口衰减器 | TAC-30 | OD3.0 | X | √ | 340-1100nm |
| C口衰减器 | TAC-40 | OD4.0 | X | √ | 340-1100nm |
| 光学支架 | BP75 | 手动升降Z轴方向 | √ | X | 通用 |
| 手动位移台 | MZ-10 | 升降Z=10mm | X | √ | 通用 |
| 手动位移台 | MZ-10S | 升降Z=10mm | X | √ | 通用 |
| 手动XY位移台 | MXY-1313 | X=13mm Y=13mm | X | √ | 通用 |
| 手动XY位移台 | MXZ-1310 | X=13mm Z=10mm | X | √ | 通用 |
备注：
标配磁吸衰减器OD0.5/1.0/2.0/3.0.
标配光学支架(手动升降)。
依据所选型号的检测波段，可选配C口衰减器及拓展紫外测量功能，增加机械组件应对复杂的工况环境。
